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PBZ-CL007V边缘检测传感器
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产品名称:
PBZ-CL007V边缘检测传感器
产品型号:
PBZ-CL007V
产品展商:
其它品牌
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PBZ-CL007V边缘检测传感器
的详细介绍
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概要PBZ激光传感器采用平行激光束和一个CMOS线性图像传感器专长检测薄膜、晶圆或玻璃基板的边缘位置。
- FDN算法
高精度的边缘检测*1
- 针对检测面污垢会影响检测精度的课题,配置了线性图像传感器和光量衰减报警功能。
- 透明物体检测用算法
可稳定检测透明物体。
- 标准双通道输入控制器
可进行双检测值运算,减少布线工作量,节省空间。
- RS-485通信(仅对应PBC-201VN2/PBC-203VN2) 可将数据传输至PLC及触摸界面。
- **性能
JIS 1级光束。不需要任何特别保护措施。
- 多功能
可忽略薄膜不规则部分的干扰消除功能*2
玻璃基板对准时倾斜度θ计算功能*3
通过位置变化检测功能可检测出玻璃基板上的缺口和裂痕*3
*1. 重复精度:PBZ-CL007V:±1 μmax.,PBZ-CL030H/V:±5 μmax.
*2. **于 PBC-201VN0/2
*3. **于 PBC-203VN2

测定内容
控制器型号 |
边缘位置测定
(透明体或不透明体)
 |
遮光宽度测定
 |
间隙测定
 |
7 mm传感器头用PBC-201VN0 |
○
|
―
|
―
|
7 mm传感器头用PBC-201VN2 |
○
|
○
|
○
|
30 mm传感器头用PPBC-203VN2 |
○
|
―
|
―
|

重复精度 ±1 μm* — 准确检测出真实的边缘位置
FDN算法是一种对于任意的工作距离(WD)都能准确地计算出真实的边缘位置的算法。
*PBZ-CL007V的重复精度为±1 μm,PBZ-CL030H/V的重复精度为±5 μ。检测条件请参照规格。
- 菲涅尔衍射
光射在刀片或薄膜等薄型物体边缘处会发生衍射。受光部衍射光的强度分布取决于受光器与薄型物体之间的距离(WD)。

不受检测面污垢引起的受光光量衰减的影响
受光单元采用线性图像传感方式,不受检测面污垢的影响,实现高精度的检测。并且,
配置了“光强度衰减报警功能”,到了维修时期便会发出警报。

- 传统方式(PD)
因遮光引起受光量的减少,使PD的线性输出发生变化。这种传统的PD方式,由于受光面污垢(或检测物透明度)造成受光光量衰减,使输出值发生变化。所以,为了防止污垢,需要进行空气吹扫。
- 本公司的线性图像传感方式
根据各像素的亮度信息,测出遮光宽度。即使受光光量衰减,只要线性图像传感器的入光量不变,边缘位置的输出值就不会变化。

干扰消除功能
不检测标签等凸起物,只检测薄膜的边缘。
将当前的测定值与设定时间(输出延迟时间)前的数值进行比较,如果变化量超过了设定值(跳读设定值),则保持变化前的数值并将其模拟输出。


θ演算功能
根据玻璃边缘的位置变化,演算倾斜度θ后输出。测量范围:±3°。

缺口检测功能(位置变化输出)
设定位置变化时间(T)和位置变化量(L),如果变化量超过设定的倾斜度,进行数字(DO)输出。

应用
- 检测晶圆的偏芯和缺口位置
能够稳定检测透明度高的玻璃晶圆或砷化镓晶圆。并且,由于采用了线性图像传感方式,因此还能越过视孔进行检测。
- 检测薄膜蜷曲
通过使用2对传感器探头计算传感器探头间的输出值,可同时检测薄膜蜷曲和薄膜宽度。
- 检测玻璃基板凹凸和裂痕
利用位置变化检测功能,可检测到传送带上的玻璃基板边缘的缺口和裂痕。
- 测定玻璃基板的XYθ
利用3对传感器,除了能计算玻璃基板的X和Y值外,还能通过内部演算计算出θ值。

规格
|
平行激光束类型
|
传感器
|
控制器
|
传感器
|
控制器
|
型号 |
PBZ-CL007V
|
PBC-201VN0
|
PBC-201VN2
|
PBZ-CL030H
|
PBZ-CL030V
|
PBC-203VN2
|
检测宽度 |
7 mm
|
30 mm
|
测定距离 |
10 - 300 mm
|
10 - 500 mm
|
工作距离(WD) |
10 - 290 mm
|
10 - 490 mm
|
移动精度 |
±20 μm *大*1
|
±50 μm *大*3
|
重复精度 |
±1 μm *大*2
|
±5 μm *大*4
|
模拟输出更新周期 |
―
|
500 μs
|
―
|
10 ms
|
传感部温度特性 |
0.1 % FS/°C
|
―
|
0.1 % FS/°C
|
―
|
使用温度范围 |
0 - 45°C
|
使用湿度范围 |
30 - 85 % RH
|
电源电压 |
―
|
24 Vdc ± 10 %
|
―
|
24 Vdc ± 10 %
|
模拟输出 |
―
|
1 to 5 Vdc 或 ±5 V: 2 输出
|
―
|
1 to 5 Vdc 或 ±5 V: 2 输出
|
事件输出 |
―
|
同步型晶体管输出:4 点
|
―
|
同步型晶体管输出:4 点
|
外部输入 |
―
|
2
|
―
|
2
|
数字显示 |
―
|
7段4位
|
―
|
7段4位
|
光源 |
可视半导体激光: JIS 1级
|
―
|
可视半导体激光: JIS 1级
|
―
|
保护结构 |
IP40
|
―
|
IP40
|
―
|
通信 |
―
|
―
|
RS-485
|
―
|
RS-485
|
传感器探头与控制器间的缆线总长度 |
*大 5 m
|
*大 30 m
|
上述规格是检测物体和边缘方向被设定为“不透明体TOP”或“不透明体BOTTOM”时的数据。其他设定时,请与本公司联系。
*1. 投受光器间距离=20 mm,工作距离=10 mm,检测物位置=从测定宽度中心位置移动±0.5 mm时。
*2. 投受光器间距离=20 mm,工作距离=10 mm,检测物位置=从测定宽度中心位置移动±3.5 mm的条件下,重复20次的平均值。
*3. 投受光器间距离=100 mm,工作距离=50 mm,检测物位置=从测定宽度中心位置移动±0.5 mm时。
*4. 投受光器间距离=20 mm,工作距离=10 mm,检测物位置=从测定宽度中心位置移动±15 mm的条件下,重复20次的平均值。
工作距离(WD): 受光器与检测物之间的距离